预测试卷六_合肥良学教育在线答题

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5.

X线头影测量的主要应用有

A.

可研究颅面生长发育

B.

可对牙、颅面畸形作诊断分析

C.

可确定错畸形的矫治设计

D.

可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化

E.

可作为外科正畸诊断和矫治设计依据

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