不属于X线头影测量可做的分析是
- A. 颅面部生长发育
- B. 双侧髁突对称性
- C. 牙、
、面畸形的机制分析 - D. 外科正畸的诊断和分析
- E. 矫治前后、颅面结构变化
正确答案：
B
答案解析：
X线头影测量的主要应用包括：①研究颅面生长发育；②牙、颌、颅面畸形的诊断分析；③确定错牙合畸形的矫治设计；④研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化；⑤正颌外科的诊断和矫治设计；⑥下颌功能分析。
